原子力顯微鏡的四大基本特性講解
點擊次數：1860 更新時間：2021-02-22
原子力顯微鏡雖名字中有“顯微鏡”三個字，卻是個不折不扣的“冒牌貨”，為啥呢？它并不像光學顯微鏡和電子顯微鏡那樣利用電磁波或者微觀粒子來“看”一個物體，而是通過一根小小的探針來間接地感知物體表面的結構。這根探針是一個長約100微米，寬約20微米的條狀物，稱其為懸臂。在懸臂的末端是一個更小的尖狀物，末端的直徑一般只有十幾個納米，我們稱它為針尖。針尖和懸臂合起來構成了一個完整的原子力顯微鏡的探針，一般使用硅或者氮化硅作為材料。可以說探針是原子力顯微鏡關鍵的部件。
原子力顯微鏡的四大特性說明：
1.高分辨力
能力遠遠超過掃描電子顯微鏡（SEM）以及光學粗糙度儀，樣品表面的三維數據滿足了研究、生產、質量檢驗越來越微觀化的要求。
2.非破壞性
探針與樣品表面相互作用力為10－8N以下，遠比以往觸針式粗糙度儀壓力小，因此不會損傷樣品，也不存在掃描電子顯微鏡的電子束損傷問題。另外掃描電子顯微鏡要求對不導電的樣品進行鍍膜處理，而原子力顯微鏡則不需要。
3.應用范圍廣
可用于表面觀察、尺寸測定、表面粗糙測定、顆粒度解析、突起與凹坑的統計處理、成膜條件評價、保護層的尺寸臺階測定、層間絕緣膜的平整度評價、VCD涂層評價、定向薄膜的摩擦處理過程的評價、缺陷分析等。
4.軟件處理功能強
其三維圖象顯示其大小、視角、顯示色、光澤可以自由設定。并可選用網絡、等高線、線條顯示。圖象處理的宏管理，斷面的形狀與粗糙度解析，形貌解析等多種功能。
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